Информация

• ПРИКАЗ № 47 от 20.03.2012 г. о введении в действие положения и strong>ПОЛОЖЕНИЕ о Центре коллективного пользования физическими методами исследования (ЦКП ФМИ ИФХЭ РАН)

• ПЕРЕЧЕНЬ основных предоставляемых УСЛУГ и их СТОИМОСТЬ

• ПОРЯДОК ДОСТУПА к оборудованию ЦКП ФМИ ИФХЭ РАН

• ДОГОВОР на выполнение научно-исследовательских работ

• ЗАЯВКА на выполнение работ на оборудовании ЦКП

• ЗАГРУЗКА ЦКП

Контакты

Научный руководитель ЦКП:
ЦИВАДЗЕ Аслан Юсупович
научный руководитель ИФХЭ РАН, академик РАН

Заместители руководителя ЦКП:
БИРИН Кирилл Петрович
ведущий научный сотрудник ИФХЭ РАН, д.х.н.
e-mail: Адрес электронной почты защищен от спам-ботов. Для просмотра адреса в вашем браузере должен быть включен Javascript.

ШИРЯЕВ Андрей Альбертович
ведущий научный сотрудник ИФХЭ РАН, д.х.н.
e-mail: Адрес электронной почты защищен от спам-ботов. Для просмотра адреса в вашем браузере должен быть включен Javascript.

Адрес: г. Москва, Ленинский проспект, д. 31, корп. 4
Телефон: +7(495) 955 46 64

Перечень методик

Исследование строения органических соединений методом ЯМР высокого разрешения

Изучение колебательных спектров (инфракрасная и рамановская спектроскопия и микроскопия)

Спектроскопия поглощения в широком спектральном диапазоне

Фотолюминесцентная спектроскопия

Исследование строения соединений методом рентгеновской порошковой и монокристальной дифрактометрии и малоуглового рассеяния

Измерение активности и радионуклидного состава

Изучение топографии поверхности материалов методом зондовой микроскопии

Термоанализ

Исследование элементного состава веществ методом ICP-MS

Изучение распределения наночастиц по размерам методом динамического светорассеяния

Облучение и стерилизация электронами

Изучение строения органических органических и металл-органических соединений методами MALDI, хроматомасс-спектрометрии высокого разрешения и хроматографии

Изучение состава и поверхности образцов методом растровой электронной микроскопии

Механические испытания (разрывные машины, износостойкость)

Обработка материалов на Стационарном комплексе лазерной обработки

Исследования наводороживания и кинетики обезводороживания при нагреве

Рентгенофлюоресцентное картирование.

Исследования в климатической камере

Изучение распределения наночастиц по размерам методом динамического светорассеяния

Облучение и стерилизация электронами

Изучение строения органических органических и металл-органических соединений методами MALDI, хроматомасс-спектрометрии высокого разрешения и хроматографии

Изучение состава и поверхности образцов методом растровой электронной микроскопии

Механические испытания (разрывные машины, износостойкость)

Обработка материалов на Стационарном комплексе лазерной обработки

Исследования наводороживания и кинетики обезводороживания при нагреве

Рентгенофлюоресцентное картирование.

Исследования в климатической камере

Оборудование ЦКП

Ядерно-магнитный спектрометр Avance
III 600 (2008 г.в.)

Рентгеновский монокристальный
дифрактометр Kappa Apex II (2007 г.в.) с
системой охлаждения образца.

Рентгеновский порошковый
дифрактометр исследовательского класса
(2010 г.в.) с монохроматорами,
различными держателями образца. Печь
позволяет проводить in situ исследования
при температурах от комнатной до 1200
С в вакууме, на воздухе и в инертной
атмосфере. Мо и Cu трубки.

Компактный рентгеновский порошковый

дифрактометр Aeris (2018 г.в.) с
двумерным детектором

Рентгеновский малоугловой
дифрактометр (2009 г.в.)

Рентгенофлюоресцентный микроскоп

Растровый электронный микроскоп с
автоэмиссионным катодом QUANTA 650
FEG (2012 г.в.)

Анализатор размеров частиц Zetasizer 
Nano ZS Malvern (2007 г.в.)

Инфракрасные Фурье-спектрометры с
приставками для диффузного рассеяния,
НПВО (Spectrum 2000),
ИК-микроскоп (2014 г.в.)
Рамановские микроспектрометры
(Senterra Bruker, 2008 г.в.; inVia Reflex
Renishaw, 2019 г.в.) Лазеры 405, 638, 532 и 785 нм,

микроскопия.

УФ Спектрофотометры Shimadzu UV-
3101PC (2012 г.в.), Shimadzu UV-3600
(2020 г.в.) и спектрометры более низкого
класса. 190-3200 нм, система охлаждения

Масс-спектрометрический комплекс
Daltonics Ultraflex (2005 г.в.) MALDI

Хромато-масс-спектрометр высокого
разрешения Maxis Impact
Жидкостные хроматографы Agilent 
1260Infinity

Система синхронного термического
анализа модели STA 449 F3 Jupiter (2020
г.в.) Т до 1600 С

Многомодульная система для
термического анализа ТА 5000 (2006 г.в.) 
Диапазон температур до 1500 С;
совмещение с ИК спектрометром.

Разрывная машина BissNano25 (2020 г.в.)
Спектрофлуориметр Fluorolog 22 (2013
г.в.)

Микроскоп высоковакуумный

сканирующий зондовый Enviroscope
(2009 г.в.)
19 Сканирующий зондовый микроскоп
Solver Pro (Компания NT-MDT)

Ротационный абразиметр Taber Abraser
Исследования на износостойкость
широкого спектра твердых материалов и
покрытий: металлы, сплавы, пластмассы,
краски, лаки, ткани, резины и т.п.

 ICP-MS спектрометр Agilent7500с (2010
г.в.)

Линейный ускоритель электронов LINS-
02-500 EURF (2013 г.в.)

Импульсно-периодический ускоритель

электронов УРТ-1М (2010 г.в.)

Радиационно-технологическая установка
"Электронно-лучевой стерилизатор ЭЛС-
2" с ускорителем УЭЛВ-10-10-С-70. 
Энергия электронов 10 МэВ, мощность 
пучка 15 кВт, ток пучка до 1500 мкА

Установка вакуумной экстракции
водорода. Вакуум до 5·10 -5 мм.рт.ст. 
Отделение водорода от других газовых 
примесей

Установка для измерения углов
смачивания и скатывания,
поверхностного натяжения методом
цифровой обработки изображения
сидящих и/или висящих капель
Климатическая камера Биндер МК53
Стационарный комплекс лазерной
обработки с иттербиевым
оптоволоконным наносекундным лазером
Термомеханический анализатор TMA Q-
400EM (200
ТГА-ДСК анализатор Q600
Дифференциальный сканирующий
калориметр DSC Q100
Динамический механический анализатор
DMA Q800 фирмы TA Instruments (2008)
Лабораторный цифровой гамма-
спектрометрический комплекс
(AMETEC) (2012 г.в.)
Автоматический
жидкосцинтилляционный низкофоновый
альфа-бета-спектрометр Tri-Carb 3180TR/SL
с активной защитой для измерения
сверхмалых количеств альфа и бета излучателей
(2012 г.в.)
Трехкамерный альфа-спектрометр
ALPHA-ARIA (ORTEC) (2007 г.в.)
Сканер PerkinElmer CyclonePlus для
авторадиографических исследований
(2009 г.в.). Пространственное разрешение пластин – 42 микрона

Список оборудования